Universidad Nacional de San Luis
El Laboratorio Centro de Investigación y Ensayo de Materiales (CIEM) de la FICA invita a participar de la Jornada “Transformación digital de la metrología. Caso Práctico: Gestión de Instrumentos de seguimiento, medición y ensayo”, que se desarrollará de forma presencial y virtual a partir de lass 18 horas del próximo miércoles 8 de noviembre, en el Aula 3 del Campus y a través de la plataforma ZOOM.
Esta jornada gratuita con cupo limitado, contará con la disertación de Fernando Toyos, fundador de empresa DINATOR SRL. La misma pretende mostrar y ejemplificar a través de casos prácticos de aplicación las nuevas herramientas disponibles para la gestión de Laboratorios. Lograr comprender los nuevos enfoques en la metrología, relacionados con la transformación digital para la gestión de instrumentos de seguimientos, medición y ensayo. Conseguir entender la transformación digital en la era de digitalización y poder dar soporte desde ese enfoque a la gestión de los laboratorios de cualquier escala e índole. También procurará exponer una aplicación para la gestión de laboratorios adaptada a cada usuario que contempla las normativas y disposiciones nacionales e internacionales de certificación.
Esta actividad es destinada al Público en general; específico para Laboratoristas y empresas & Laboratorios que deseen capacitar a su personal.
Aquellos interesados en participar de esta jornada no arancelada, debe inscribirse ingresando al siguiente enlace: